Phenom Particle X Battery: O MEV de bancada com solução automatizada para pesquisa e produção de baterias.
Na pesquisa e produção de baterias, a qualidade dos materiais é um ponto crítico e que deve ser investigado com atenção. A presença de pequenos contaminantes no pó de NCM, por exemplo, poderá comprometer o resultado do produto final. Assim, para identificar esse contaminantes de forma eficaz, imagens de MEV de alta resolução com análise de EDS, para identificação química, tornam-se ferramentas imprescindíveis neste segmento.
O Phenom Particle X Battery fornece imagens de MEV de alta resolução e informações da composição química de maneira totalmente automatizada, tornando-se uma solução poderosa para inspeção da qualidade de materiais utilizados para produção de baterias.
Características principais:
- Classificações de condutância
É possível realizar a classificação de partículas por meio de informações de condutância. Isso permite avaliar o impacto da presença do contaminantes com maior precisão, pois a presença de uma pequena contaminação orgânica não apresenta uma ameaça grande se comparado a presença de contaminantes metálicos condutores.
Para visualizar a composição química da população de partículas presentes na amostra, um diagrama ternário pode ser gerado com a representação de todas as espécies. Com Ni, Co e Mn em cada eixo, é possível verificar as tendências gerais de maneira instantânea.
Especificações:
| Fonte de elétrons |
CeB₆ (+3.000h de uso) |
| Magnificação óptica |
3 16x |
| Magnificação eletrônica |
160 200.000x |
| Resolução |
≤ 9 nm |
| Zoom digital |
12x |
| Câmera de navegação |
Colorida |
| Tensão de aceleração |
2 kV, 5 kV, 10 kV, 15 kV e 20 kV
Ajustável entre 4,8 kV e 20,5 kV
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| Níveis de vácuo |
Baixo, Médio, Alto vácuo |
| Porta amostra |
X x Y (máx): 100 x 100 mm
Z (máx): 40 mm
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| Detector |
BSD (Backscattered electron detector) padrão
EDS (Energy-dispersive X-ray spectroscopy) padrão
SED (Secondary electron detector) opcional
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