Phenom Particle X AM: O MEV de bancada com solução automatizada para manufatura aditiva
O Phenom Particle X AM, da Thermo Fischer Scientific, é a solução em microscopia eletrônica de varredura em bancada projetada para o setor de manufatura aditiva que fornece informações de pureza em microescala. Equipado com uma câmara grande o suficiente para analisar amostras de até 100 mm X 100 mm. O mecanismo de ventilação e carregamento garante o ciclo de ventilação/carga mais rápido do mundo, proporcionando o maior rendimento.
Com o MEV Phenom ParticleX AM, você pode assumir o controle interno de seus dados:
Monitore características críticas de pós metálicos;
Aprimore seus processos de fabricação de aditivos alimentados com material particulado (pó);
Identifique distribuições de tamanho de partícula, morfologia de partícula individual, perímetro, rugosidade, diâmetro e partículas anormais. Todos eles podem ser exibidos com valores de 10%, 50% ou 90% (ou seja, d10, d50, d90).
Especificações:
Fonte de elétrons
CeB6 (+3.000h de uso)
Magnificação óptica
3 16x
Magnificação eletrônica
160 200.000x
Resolução
≤9 nm
Zoom digital
12x
Câmera de navegação
Colorida
Tensão de aceleração
2 kV, 5 kV, 10 kV, 15 kV e 20 kV
Ajustável entre 4,8 kV e 20,5 kV
Níveis de vácuo
Baixo, Médio, Alto vácuo
Porta amostra
X x Y (máx): 100 x 100 mm
Z (máx): 40 mm
Detector
BSD (Backscattered electron detector) padrão
EDS (Energy-dispersive X-ray spectroscopy) padrão
SED (Secondary electron detector) opcional
