Phenom Particle X AM:O MEV de bancada com solução automatizada para manufatura aditiva
O Phenom Particle X AM, da Thermo Fischer Scientific, é a solução em microscopia eletrônica de varredura em bancada projetada para o setor de manufatura aditiva que fornece informações de pureza em microescala. Equipado com uma câmara grande o suficiente para analisar amostras de até 100 mm X 100 mm. O mecanismo de ventilação e carregamento garante o ciclo de ventilação/carga mais rápido do mundo, proporcionando o maior rendimento.
Com o MEV Phenom ParticleX AM, você pode assumir o controle interno de seus dados:
Monitore características críticas de pós metálicos
Aprimore seus processos de fabricação de aditivos alimentados com material particulado (pó)
Identifique distribuições de tamanho de partícula, morfologia de partícula individual, perímetro, rugosidade, diâmetro e partículas anormais. Todos eles podem ser exibidos com valores de 10%, 50% ou 90% (ou seja, d10, d50, d90)
Especificações:
Magnificação óptica
3 - 16X
Magnificação eletrônica
160 X 200.000X
Resolução
< 10 nm
Câmera de navegação
colorida
Tensão de aceleração
Padrão: 5 kV, 10 kV e 15 kV
Modos avançados: 4,8 kV e 20,5 kV
Níveis de vácuo
Alto vácuo
Médio vácuo
Baixo vácuo
Porta amostra
100x100 mm ou 36 stubs de 12mm
40 mm de altura
Detector
BSD (Backscattered electron detector) padrão
EDS (Energy-dispersive X-ray spectroscopy detector) padrão
SE (Secondary electron detector) opcional*
