Phenom Particle X TC:O MEV de bancada com solução automatizada para limpeza técnica industrial
O Phenom Particle X TC, da Thermo Fischer Scientific, é a solução em microscopia eletrônica de varredura em bancada multifuncional que realiza a caracterização de limpeza técnica industrial em microescala. O MEV Phenom Particle X TC é a ferramenta versátil para análise interna de alta qualidade que oferece a capacidade de realizar a caracterização, verificação e classificação rápida de materiais apoiando sua produção com informações precisas e confiáveis. Dispondo de um sistema de execução simples, o usuário poderá operar facilmente o Phenom Particle X TC e obter informações de análise de partículas e materiais de interesse.
Com a crescente demanda por análise de partículas em microescala nas indústrias, o MEV de bancadaPhenom Particle X TC proporciona uma solução automatizada que fornece informações relevantes unindo a técnica de microscopia eletrônica de varredura com espectroscopia de energia dispersiva de raios-X (EDS). Esta é uma grande vantagem sobre a microscopia de luz, pois permite a classificação química das partículas, fornecendo grandes insights em seus processos de produção e/ou ambientes. Estão disponíveis relatórios padrões em conformidade com VDA 19 / ISO 16232 ou ISO 4406/4407.
Especificações:
Magnificação óptica
3 - 16X
Magnificação eletrônica
160 X 200.000X
Resolução
< 10 nm
Câmera de navegação
colorida
Tensão de aceleração
Padrão: 5 kV, 10 kV e 15 kV
Modos avançados: 4,8 kV e 20,5 kV
Níveis de vácuo
Alto vácuo
Médio vácuo
Baixo vácuo
Porta amostra
100x100 mm ou 36 stubs de 12mm
40 mm de altura
Detector
BSD (Backscattered electron detector) padrão
EDS (Energy-dispersive X-ray spectroscopy detector) padrão
SE (Secondary electron detector) opcional*
