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Produtos > Caracterização de materiais > MEV de Bancada para pesquisa e desenvolvimento, Industrial e automatização

MEV de bancada - Phenom Particle X - Steel

MEV de bancada

Uma maneira melhor de atender aos padrões de qualidade industrial na análise de partículas em aço

Reportar aos padrões industriais na análise de partículas em aço é fundamental. No entanto, os microscópios ópticos tradicionais fornecem informações limitadas, e a qualidade da análise de partículas muitas vezes não consegue atender aos requisitos de qualidade cada vez mais rigorosos.

Para uma solução, não procure mais: conheça o nosso Thermo Scientific Phenom ParticleX Steel Desktop SEM. Com suas funções automatizadas, ele permite que você realize análises composicionais de falhas no aço em nível de nanopartículas, tanto durante sua produção — incluindo processos de morte por alumínio, morte por silício e tratamento com cálcio — quanto em sua forma acabada, como engrenagens e rolamentos.

MEV de bancada

No entanto, o que realmente diferencia esse sistema é o Thermo Scientific Perception Automation Software integrado. Ele analisa seções transversais polidas de amostras de aço para encontrar e classificar automaticamente inclusões que podem afetar a resistência, a ductilidade e a resistência à corrosão do seu aço. Em seguida, o Phenom ParticleX Steel Desktop SEM gera relatórios industriais concisos que transformam dados brutos em respostas claras e imparciais para você e sua equipe.

Este SEM compacto conta com a Thermo Scientific ChemiSEM Technology, nossa espectroscopia de raios X por dispersão de energia (EDS) integrada para pesquisa elementar, que permite realizar análises de falhas e a caracterização automatizada de inclusões não metálicas por meio de um único processo simples.

Especificações:

Fonte de elétrons CeB₆ (+3.000h de uso)
Magnificação óptica 3 – 16x
Magnificação eletrônica 160 – 200.000x
Resolução ≤ 9 nm
Zoom digital 12x
Câmera de navegação Colorida
Tensão de aceleração 2 kV, 5 kV, 10 kV, 15 kV e 20 kV
Ajustável entre 4,8 kV e 20,5 kV
Níveis de vácuo Baixo, Médio, Alto vácuo
Porta amostra X x Y (máx): 100 x 100 mm
Z (máx): 40 mm
Detector BSD (Backscattered electron detector) padrão
EDS (Energy-dispersive X-ray spectroscopy) padrão
SED (Secondary electron detector) opcional

Cotação Rápida

Fornecimento Local    Importação Direta

QTDE Opções disponíveis Código
MEV de Bancada Phenom XL G3 ParticleX Base + SED, Thermo Fisher Scientific 1467690
MEV de Bancada Phenom XL G3 ParticleX Base, Thermo Fisher Scientific 1467688
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